Мастер-Тул
Комплексные измерения для технологий будущего!

+7 495 432 71 85
info@master-tool.ru
127106, г.Москва, Нововладыкинский проезд, дом 8, строение 4
Каталог
  • Измерительное оборудование
    Измерительное оборудование
    • Осциллографы
    • Анализаторы мощности
    • Анализаторы спектра
    • Анализаторы фазовых шумов
    • Генераторы сигналов
    • Измерительные коммутаторы
    • Источники измерители
    • Источники питания лабораторные
    • Мультиметры
    • Нановольтметры
    • Параметрические измерения
    • Пикоамперметры
    • Программное обеспечение
    • Частотомеры
    • Электрометры
    • Электронные нагрузки
    • Ещё
  • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
    Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
    • Антенны
    • Датчики поля
    • Камеры экранированные
    • Компонеты экранированных камер
    • Материалы для экранирования
    • Позиционирующие устройства
    • Программное обеспечение
    • Радиопоглощающий материал
    • Усилители мощности
  • Промышленная мебель
    Промышленная мебель
    • Рабочие столы и верстаки
    • Тумбы
    • Тележки
    • Рабочие стулья
    • Освещение рабочих мест
    • Стеллажи и Шкафы
    • Системы хранения
    • Столы упаковочные
Решения
Акции
Новости
Статьи
Компания
  • О компании
  • Сотрудники
  • Реквизиты
Контакты
    Мастер-Тул
    Каталог
    • Измерительное оборудование
      Измерительное оборудование
      • Осциллографы
      • Анализаторы мощности
      • Анализаторы спектра
      • Анализаторы фазовых шумов
      • Генераторы сигналов
      • Измерительные коммутаторы
      • Источники измерители
      • Источники питания лабораторные
      • Мультиметры
      • Нановольтметры
      • Параметрические измерения
      • Пикоамперметры
      • Программное обеспечение
      • Частотомеры
      • Электрометры
      • Электронные нагрузки
      • Ещё
    • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
      Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
      • Антенны
      • Датчики поля
      • Камеры экранированные
      • Компонеты экранированных камер
      • Материалы для экранирования
      • Позиционирующие устройства
      • Программное обеспечение
      • Радиопоглощающий материал
      • Усилители мощности
    • Промышленная мебель
      Промышленная мебель
      • Рабочие столы и верстаки
      • Тумбы
      • Тележки
      • Рабочие стулья
      • Освещение рабочих мест
      • Стеллажи и Шкафы
      • Системы хранения
      • Столы упаковочные
    Решения
    Акции
    Новости
    Статьи
    Компания
    • О компании
    • Сотрудники
    • Реквизиты
    Контакты
      Мастер-Тул
      • Мой кабинет
      • Каталог
        • Назад
        • Каталог
        • Измерительное оборудование
          • Назад
          • Измерительное оборудование
          • Осциллографы
            • Назад
            • Осциллографы
            • Осциллографы высокочастотные
            • Осциллографы комбинированные
            • Осциллографы портативные
            • Осциллографы с аккумулятором
            • Пробники и принадлежности
          • Анализаторы мощности
          • Анализаторы спектра
          • Анализаторы фазовых шумов
          • Генераторы сигналов
          • Измерительные коммутаторы
          • Источники измерители
          • Источники питания лабораторные
          • Мультиметры
          • Нановольтметры
          • Параметрические измерения
          • Пикоамперметры
          • Программное обеспечение
          • Частотомеры
          • Электрометры
          • Электронные нагрузки
        • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
          • Назад
          • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
          • Антенны
            • Назад
            • Антенны
            • Биконические антенны
            • Дипольные антенны
            • Логопериодические антенны
            • Рамочные антенны
            • Рупорные антенны
            • Штыревые антенны
          • Датчики поля
          • Камеры экранированные
            • Назад
            • Камеры экранированные
            • Камеры безэховые экранированные
            • Камеры реверберационные
            • Камеры рупорные GTEM
            • Тестовые системы
            • Экранированные тенты
          • Компонеты экранированных камер
          • Материалы для экранирования
          • Позиционирующие устройства
            • Назад
            • Позиционирующие устройства
            • Антенные мачты
            • Поворотные столы
            • Многокоординатные позиционеры
            • Линейные позиционеры
            • Динамометрические стенды
            • Контроллеры управления
          • Программное обеспечение
          • Радиопоглощающий материал
          • Усилители мощности
        • Промышленная мебель
          • Назад
          • Промышленная мебель
          • Рабочие столы и верстаки
          • Тумбы
          • Тележки
          • Рабочие стулья
          • Освещение рабочих мест
          • Стеллажи и Шкафы
          • Системы хранения
          • Столы упаковочные
      • Решения
      • Акции
      • Новости
      • Статьи
      • Компания
        • Назад
        • Компания
        • О компании
        • Сотрудники
        • Реквизиты
      • Контакты
      • +7 495 432 71 85
      127106, г.Москва, Нововладыкинский проезд, дом 8, строение 4

      Советы по измерению джиттера и выявлению причин его возникновения во встраиваемых системах (Scott Davidson, Tektronix)

      25 Июня 2020 11:59
      Советы по измерению джиттера и выявлению причин его возникновения во встраиваемых системах (Scott Davidson, Tektronix)
      Советы по измерению джиттера и выявлению причин его возникновения во встраиваемых системах (Scott Davidson, Tektronix)

      Скотт Дэвидсон (Scott Davidson), Tektronix, 2018

      Тактовая частота – это пульс встраиваемых систем, задающий опорные временные интервалы и обеспечивающий синхронизацию между компонентами, подсистемами и целыми системами. Чрезмерный джиттер сигналов тактовой частоты может существенно ухудшить характеристики системы.

      Джиттером называют любое нежелательное отклонение фронтов сигнала от того места, где они должны находиться. Джиттер неизбежно присутствует во всех встраиваемых системах и каналах связи. Поэтому для обеспечения надёжной работы систем в широком диапазоне условий, без тщательного измерения параметров джиттера никак не обойтись.

      Понимание всего, что нужно знать о джиттере – непростая задача. О джиттере написаны многие тома, что красноречиво демонстрирует сложность проблем, связанных с временными погрешностями. К счастью современные цифровые осциллографы превратили измерение временных соотношений и джиттера в почти тривиальную задачу, что хорошо видно из приведённых ниже примеров.

      Измерение параметров джиттера тактовой частоты

      Современные осциллографы поддерживают множество измерений, позволяющих выполнить начальный анализ джиттера и убедиться, что сигнал тактовой частоты отвечает требованиям спецификаций. Применение статистических функций, например, функции измерения максимальной и минимальной частоты, даёт возможность убедиться, что тактовая частота не выходит за пределы допусков, а стандартное отклонение позволяет количественно оценить стабильность частоты. Тем не менее, сами по себе статистические показатели практически ничего не говорят о характере флуктуаций частоты. Вот здесь на сцену выходят графические средства, такие как функция построения гистограмм, которые дают дополнительную информацию о различных параметрах флуктуации частоты.

      В примере, показанном на рисунке 1, на передних и задних фронтах каждого периода тактового сигнала частотой 40 МГц измерялась частота и погрешность интервала времени (TIE). Измерения временных характеристик выполнялись относительно средней тактовой частоты. Статистические показатели, расположенные в окнах справа и в результирующей таблице сверху, позволяют оценить флуктуации частоты. Статистические показатели в левой части таблицы представляют текущий захват, а показатели в правой части таблицы представляют сумму всех предшествующих захватов.

      Две гистограммы слева отображают измерения частоты и TIE на передних фронтах тактовой частоты и позволяют понять характер временных флуктуаций. В данном случае распределение очень близко к Гауссовскому, что позволяет сделать вывод о преимущественно случайном характере джиттера.

      В то же время две гистограммы справа представляют измерения частоты и TIE на задних фронтах тактовой частоты. Заметьте, что форма гистограммы частоты сильно отличается от формы других гистограмм, что наводит на мысль о необходимости дополнительных исследований.


      Рисунок 1. Необычная форма гистограммы частоты заднего фронта наводит на мысль о потенциальной проблеме. Это измерение выполнялось с помощью осциллографа смешанных сигналов Tektronix серии 5 с полосой пропускания 2 ГГц.

      Для измерения джиттера и выявления причин его появления нужно понять, какой именно тип джиттера мог вызвать такие флуктуации фронтов. Как показано на рисунке 2, джиттер фронтов можно разложить на компоненты, которые позволяют сделать предположение о возможных причинах возникновения проблем и определить, насколько корректно ведут себя разные тактовые частоты и цепи в исследуемой системе.


      Рисунок 2. Джиттер и его компоненты.

      1. Случайный
      2. PJ включает в себя SRJ, который состоит из (F/2, F/4, F/8)
      3. Полный
      4. Детерминированный
      5. Периодический
      6. Зависящий от данных
      7. Искажения скважности

      На рисунке 3 приведены результаты измерения джиттера тактовой частоты 40 МГц, показанного на рисунке 1, включая глазковую диаграмму сигнала, гистограмму, спектр TIE и разложение джиттера на отдельные компоненты. С первого же взгляда видно, что открытый глазок на глазковой диаграмме говорит о том, что джиттер сигнала тактовой частоты достаточно мал. И в самом деле, полный джиттер (TJ@BER) равен примерно 554 пс, что составляет примерно 2,2 % от периода тактовой частоты 40 МГц. Разложение джиттера на компоненты показывает, что случайный джиттер составляет лишь очень малую часть полного джиттера.

      Следовательно, доминирующей компонентой должен быть детерминированный джиттер. К тому же две вершины гистограммы TIE наводят на мысль о большом уровне детерминированного джиттера. DJ в свою очередь можно разложить на периодический джиттер (PJ), джиттер, зависящий от данных (DDJ) и искажения скважности (DCD).

      В данном случае компонента PJ равна примерно одной четвертой части джиттера. В спектре TIE хорошо видны пики на частотах 7, 17 и 32 МГц, что позволяет сделать предположение о присутствии большого некоррелированного детерминированного джиттера, вызванного, по всей вероятности, взаимовлиянием сигналов на печатной плате или внутри ПЛИС. Поскольку этот сигнал представляет собой не данные, а тактовую частоту, то DDJ равен нулю. Кроме того, DCD составляет примерно пятую часть полного джиттера, что наводит на мысль о необходимости дальнейшего анализа и оптимизации цепи, формирующей тактовую частоту.


      Рисунок 3. Более глубокий анализ позволил предположить, что цепь, формирующая тактовый сигнал 40 МГц, требует дальнейшего анализа и оптимизации.

      Что ещё может происходить в этой системе? Чтобы это понять, давайте исследуем другую тактовую частоту, в данном случае 1,25 МГц. Как показано на рисунке 4, этот сигнал демонстрирует несколько иные параметры джиттера. Открытый глазок глазковой диаграммы говорит о том, что джиттер тактовой частоты невелик, и это подтверждается измерением значения TJ, которое равно примерно 4,4 нс, то есть, менее 0,55 % от периода тактовой частоты. Разложение джиттера на компоненты показывает, что компонента RJ очень мала по сравнению с полным джиттером. Компонента PJ тоже сравнительно мала, и в спектре TIE отсутствует явно выраженный пик, а это свидетельствует о том, что джиттер сигнала слабо связан с некоррелированными компонентами DJ.


      Рисунок 4. Джиттер тактовой частоты 1,25 МГц не связан с некоррелированными компонентами DJ.

      На рисунке 5 показана осциллограмма сигнала тактовой частоты, широкие задние фронты которой явно демонстрируют сильно меняющуюся скважность. Если во всех частях встраиваемой системы используются только передние фронты тактовой частоты, то флуктуации скважности могут не представлять проблемы. Но если часть схемы использует передние фронты, а часть – задние, то джиттер может привести к некорректной или ненадёжной работе системы.


      Рисунок 5. На задних фронтах тактового сигнала 1,25 МГц видны флуктуации скважности.

      Измерение параметров сигнала тактовой частоты с распределённым спектром

      В качестве следующего примера мы рассмотрим осциллограмму тактового сигнала частотой 98 МГц в режиме с бесконечным послесвечением. Как показано на рисунке 6, измеренная частота меняется со временем примерно от 97 до 100 МГц. Период тоже изменяется, что демонстрируется горизонтальным размытием сигнала вдали от точки запуска.


      Рисунок 6. На этой осциллограмме с бесконечным послесвечением хорошо заметно изменение периода сигнала тактовой частоты 98 МГц.

      Статистические измерения этого сигнала помогут численно оценить флуктуацию частоты и проверить, отвечает ли тактовая частота требованиям спецификаций, но они не дадут сведений о том, как именно меняется частота. В данном случае сигнал представляет собой сигнал тактовой частоты с распределённым спектром, частота которого намеренно промодулирована. Но работает ли схема так, как предполагалось?

      Как показано на рисунке 7, в предполагаемых флуктуациях частоты преобладает компонента PJ, что подтверждается таблицей результатов в верхней части экрана и седлообразной формой гистограммы TIE. TIE, вызванную модуляцией, можно наблюдать на оранжевом графике изменения во времени в нижнем правом углу экрана.


      Рисунок 7. Результаты измерения параметров джиттера сигнала тактовой частоты 98 МГц с распределённым спектром.

      По графику изменения во времени TIE и по измерению пиков спектра TIE в центре экрана можно сделать вывод, что частота модуляции равна примерно 39 кГц. Форма спектра с преобладанием нечётных гармоник с быстро спадающей амплитудой позволяет предположить, что модулирующий сигнал скорее всего имеет прямоугольную или треугольную форму. Но TIE представляет собой интеграл от модулирующего сигнала, а значит, сигнал тактовой частоты с распределённым спектром скорее всего промодулирован треугольным сигналом частотой 39 кГц.

      Эту теорию можно проверить, взглянув на измерения частоты и построив гистограмму, спектр и график изменения во времени, как показано на рисунке 8. Выполнив измерения спектра с помощью курсоров, можно увидеть, что модулирующий сигнал действительно является треугольным сигналом частотой 39 кГц. Гистограмма, как и ожидалось, является плоской в диапазоне от 97 до 100 МГц, а график изменения во времени даёт ещё одно представление той же модуляции.


      Рисунок 8. Измерение частоты тактового сигнала 98 МГц с распределённым спектром подтверждает предположение о треугольной форме и частоте 39 кГц модулирующего сигнала.

      Измерение джиттера низкоскоростной последовательной шины

      Джиттер влияет и на параметры последовательных шин, включая шины с самосинхронизацией. На рисунке 9 показан анализ дифференциального сигнала передатчика шины CAN со скоростью передачи 500 кбит/с. Аналогичный метод измерения можно применять к приёмникам и передатчикам других последовательных шин.


      Рисунок 9. Влияние джиттера передатчика на шину с самосинхронизацией, такую, как CAN.

      В первую очередь для выполнения анализа надо выделить из последовательного сигнала данных сигнал тактовой частоты. В данном случае осциллограф выполняет восстановление тактовой частоты с помощью системы фазовой автоподстройки частоты (ФАПЧ) с узкой полосой пропускания, что позволяет сохранить синхронизацию между пакетами данных. Затем восстановленная тактовая частота используется в качестве опорной для анализа джиттера.

      Разложение джиттера на компоненты показывает, что большую часть полного джиттера передатчика составляет джиттер, зависящий от данных (DDJ), а случайная и зависящая от скважности компоненты очень малы. Имеется также значительная компонента PJ, которая, по всей видимости, связана с амплитудной модуляцией сигнала в начале каждого пакета данных (а не с отдельными битами данных), что видно на глазковой диаграмме и на представлении сигнала во временной области.

      Измерение джиттера тактируемых данных

      И в качестве последнего примера давайте рассмотрим анализ джиттера синхронной логической схемы. В отличие от предыдущих примеров эта схема имеет отдельный сигнал тактовой частоты, поэтому измерения джиттера выполняются на голубом сигнале данных канала 2 по отношению к жёлтому сигналу тактовой частоты канала 1, как показано в нижнем правом углу рисунка 10.


      Рисунок 10. Анализ джиттера синхронного логического сигнала показывает, как искажения скважности тактового сигнала влияют на другие сигналы системы.

      Частота сигнала равна всего 1,25 МГц, дорожки печатной платы короткие, поэтому сигналы достаточно чисты, что демонстрируется малым случайным джиттером и широко открытым глазком. Поскольку эта схема использует отдельный сигнал тактовой частоты, джиттер, как правило, от данных не зависит.

      В данном случае в джиттере преобладает компонента, связанная с искажением скважности. Дальнейший анализ схемы показывает, что тактовый сигнал в ней получен из сигнала, показанного на рисунке 5. Не удивительно, что значительная часть полного джиттера этой схемы порождается искажением скважности тактового сигнала.

      Заключение

      Являясь пульсом встраиваемых систем, сигналы тактовой частоты чрезвычайно важны для правильной синхронизации компонентов, подсистем и систем в целом. Как показали эти примеры измерения немодулированной тактовой частоты, тактовой частоты с распределённым спектром, последовательной шины с самосинхронизацией и тактируемых данных, современные осциллографы предлагают широкий набор измерений, позволяющих сорвать покров тайны с измерения параметров и проверки джиттера встраиваемых систем.

      Назад к списку Следующая статья
      Это интересно
      • Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания (Lee Morgan, Tektronix)
        Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания (Lee Morgan, Tektronix)
        26 Ноября 2020
      • Преодоление проблем генерации радиочастотных сигналов с помощью новых технологий ЦАП (Sahand Noorizadeh / Iqbal Bawa, Tektronix)
        Преодоление проблем генерации радиочастотных сигналов с помощью новых технологий ЦАП (Sahand Noorizadeh / Iqbal Bawa, Tektronix)
        1 Октября 2020
      • Оценка эффективности силового полупроводникового прибора методом двухимпульсного тестирования (Andrea Vinci, Tektronix)
        Оценка эффективности силового полупроводникового прибора методом двухимпульсного тестирования (Andrea Vinci, Tektronix)
        21 Июля 2020
      • Обнаружение БПЛА с использованием анализатора спектра реального времени RSA306B и RSA507A
        Обнаружение БПЛА с использованием анализатора спектра реального времени RSA306B и RSA507A
        14 Июля 2020
      • Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров (Chris Godfrey, Tektronix)
        Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров (Chris Godfrey, Tektronix)
        8 Июля 2020
      • Решения Tektronix для разработчиков систем на основе SiC и GaN (Andrea Vinci, Tektronix)
        Решения Tektronix для разработчиков систем на основе SiC и GaN (Andrea Vinci, Tektronix)
        15 Июня 2020
      • Инновации в контрольно-измерительных технологиях: производство новых осциллографов смешанных сигналов Tektronix серии 5 (Dave Pereles, Tektronix)
        Инновации в контрольно-измерительных технологиях: производство новых осциллографов смешанных сигналов Tektronix серии 5 (Dave Pereles, Tektronix)
        9 Июня 2020
      • Опыт монтажа безэховой экранированной камеры AMS-8500 ETS-Lindgren
        Опыт монтажа безэховой экранированной камеры AMS-8500 ETS-Lindgren
        3 Июня 2020
      • Внутрисхемное измерение параметров дросселей и трансформаторов в импульсных источниках питания (Wilson Lee, Tektronix)
        Внутрисхемное измерение параметров дросселей и трансформаторов в импульсных источниках питания (Wilson Lee, Tektronix)
        2 Июня 2020
      • Ускорение электрического тестирования: история от производителя электромобилей (Brad Odhner, Tektronix/Keithley Instruments)
        Ускорение электрического тестирования: история от производителя электромобилей (Brad Odhner, Tektronix/Keithley Instruments)
        25 Мая 2020
      • Упрощение сложных измерений с помощью источника-измерителя (SMU) (Tom Ohlsen, Tektronix)
        Упрощение сложных измерений с помощью источника-измерителя (SMU) (Tom Ohlsen, Tektronix)
        18 Мая 2020
      • Новый подход к частотному анализу в осциллографах (Lee Morgan, Tektronix)
        Новый подход к частотному анализу в осциллографах (Lee Morgan, Tektronix)
        12 Мая 2020
      • Точные измерения цепей питания (Lee Morgan, Tektronix)
        Точные измерения цепей питания (Lee Morgan, Tektronix)
        26 Апреля 2020
      • Измерение стабильности и джиттера тактовой частоты с помощью осциллографа (Scott Davidson, Tektronix)
        Измерение стабильности и джиттера тактовой частоты с помощью осциллографа (Scott Davidson, Tektronix)
        20 Апреля 2020
      • Ускорение проверки временных соотношений для источников питания с помощью 8-канального осциллографа (Lee Morgan, Tektronix)
        Ускорение проверки временных соотношений для источников питания с помощью 8-канального осциллографа (Lee Morgan, Tektronix)
        14 Апреля 2020
      • RSA306 – компактный высокопроизводительный анализатор спектра (Dean Miles, Tektronix)
        RSA306 – компактный высокопроизводительный анализатор спектра (Dean Miles, Tektronix)
        6 Апреля 2020
      • Тестирование трансиверов SFP+ (Dean Miles, Tektronix)
        Тестирование трансиверов SFP+ (Dean Miles, Tektronix)
        1 Апреля 2020
      Подписывайтесь на новости и акции:
      Компания
      О компании
      Сотрудники
      Реквизиты
      Каталог
      Измерительное оборудование
      Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
      Промышленная мебель

      +7 495 432 71 85
      info@master-tool.ru
      127106, г.Москва, Нововладыкинский проезд, дом 8, строение 4
      Обращаем Ваше внимание на то, что информация на сайте, носит исключительно информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса Российской Федерации. Для получения подробной информации о наличии товара, сроке поставки, его технических характеристиках и стоимости, необходимо обращаться в ООО ”Мастер-Тул”.
      © 2022 Мастер-Тул