Мастер-Тул
Комплексные измерения для технологий будущего!

+7 495 432 71 85
info@master-tool.ru
127106, г.Москва, Нововладыкинский проезд, дом 8, строение 4
Каталог
  • Измерительное оборудование
    Измерительное оборудование
    • Осциллографы
    • Анализаторы мощности
    • Анализаторы спектра
    • Анализаторы фазовых шумов
    • Генераторы сигналов
    • Измерительные коммутаторы
    • Источники измерители
    • Источники питания лабораторные
    • Мультиметры
    • Нановольтметры
    • Параметрические измерения
    • Пикоамперметры
    • Программное обеспечение
    • Частотомеры
    • Электрометры
    • Электронные нагрузки
    • Ещё
  • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
    Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
    • Антенны
    • Датчики поля
    • Камеры экранированные
    • Компонеты экранированных камер
    • Материалы для экранирования
    • Позиционирующие устройства
    • Программное обеспечение
    • Радиопоглощающий материал
    • Усилители мощности
  • Промышленная мебель
    Промышленная мебель
    • Рабочие столы и верстаки
    • Тумбы
    • Тележки
    • Рабочие стулья
    • Освещение рабочих мест
    • Стеллажи и Шкафы
    • Системы хранения
    • Столы упаковочные
Решения
Акции
Новости
Статьи
Компания
  • О компании
  • Сотрудники
  • Реквизиты
Контакты
    Мастер-Тул
    Каталог
    • Измерительное оборудование
      Измерительное оборудование
      • Осциллографы
      • Анализаторы мощности
      • Анализаторы спектра
      • Анализаторы фазовых шумов
      • Генераторы сигналов
      • Измерительные коммутаторы
      • Источники измерители
      • Источники питания лабораторные
      • Мультиметры
      • Нановольтметры
      • Параметрические измерения
      • Пикоамперметры
      • Программное обеспечение
      • Частотомеры
      • Электрометры
      • Электронные нагрузки
      • Ещё
    • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
      Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
      • Антенны
      • Датчики поля
      • Камеры экранированные
      • Компонеты экранированных камер
      • Материалы для экранирования
      • Позиционирующие устройства
      • Программное обеспечение
      • Радиопоглощающий материал
      • Усилители мощности
    • Промышленная мебель
      Промышленная мебель
      • Рабочие столы и верстаки
      • Тумбы
      • Тележки
      • Рабочие стулья
      • Освещение рабочих мест
      • Стеллажи и Шкафы
      • Системы хранения
      • Столы упаковочные
    Решения
    Акции
    Новости
    Статьи
    Компания
    • О компании
    • Сотрудники
    • Реквизиты
    Контакты
      Мастер-Тул
      • Мой кабинет
      • Каталог
        • Назад
        • Каталог
        • Измерительное оборудование
          • Назад
          • Измерительное оборудование
          • Осциллографы
            • Назад
            • Осциллографы
            • Осциллографы высокочастотные
            • Осциллографы комбинированные
            • Осциллографы портативные
            • Осциллографы с аккумулятором
            • Пробники и принадлежности
          • Анализаторы мощности
          • Анализаторы спектра
          • Анализаторы фазовых шумов
          • Генераторы сигналов
          • Измерительные коммутаторы
          • Источники измерители
          • Источники питания лабораторные
          • Мультиметры
          • Нановольтметры
          • Параметрические измерения
          • Пикоамперметры
          • Программное обеспечение
          • Частотомеры
          • Электрометры
          • Электронные нагрузки
        • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
          • Назад
          • Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
          • Антенны
            • Назад
            • Антенны
            • Биконические антенны
            • Дипольные антенны
            • Логопериодические антенны
            • Рамочные антенны
            • Рупорные антенны
            • Штыревые антенны
          • Датчики поля
          • Камеры экранированные
            • Назад
            • Камеры экранированные
            • Камеры безэховые экранированные
            • Камеры реверберационные
            • Камеры рупорные GTEM
            • Тестовые системы
            • Экранированные тенты
          • Компонеты экранированных камер
          • Материалы для экранирования
          • Позиционирующие устройства
            • Назад
            • Позиционирующие устройства
            • Антенные мачты
            • Поворотные столы
            • Многокоординатные позиционеры
            • Линейные позиционеры
            • Динамометрические стенды
            • Контроллеры управления
          • Программное обеспечение
          • Радиопоглощающий материал
          • Усилители мощности
        • Промышленная мебель
          • Назад
          • Промышленная мебель
          • Рабочие столы и верстаки
          • Тумбы
          • Тележки
          • Рабочие стулья
          • Освещение рабочих мест
          • Стеллажи и Шкафы
          • Системы хранения
          • Столы упаковочные
      • Решения
      • Акции
      • Новости
      • Статьи
      • Компания
        • Назад
        • Компания
        • О компании
        • Сотрудники
        • Реквизиты
      • Контакты
      • +7 495 432 71 85
      127106, г.Москва, Нововладыкинский проезд, дом 8, строение 4

      Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания (Lee Morgan, Tektronix)

      26 Ноября 2020 12:40
      Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания (Lee Morgan, Tektronix)
      Выявление взаимосвязи между джиттером и шумом схемы питания (Lee Morgan, Tektronix)
      Ли Морган (Lee Morgan), Tektronix, 2020 

      Лучшей отправной точкой для выяснения исходной причины появления битовых ошибок является анализ джиттера, но в некоторых случаях добраться до первопричины может помочь анализ сигналов схемы питания. Чтобы разобраться в битовых ошибках, мы рассмотрим джиттер и шум схемы питания как во временной, так и в частотной областях. Сравнение частот периодического джиттера (PJ) в спектре TIE с вызванными пульсациями выбросами в спектре сигнала питания является быстрым и точным способом определения проблем целостности сигнала в схеме питания.

      ВЛИЯНИЕ ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛА И ЦЕЛОСТНОСТИ ПИТАНИЯ НА ОШИБКИ
      Ошибки в цифровых сигналах вызываются джиттером и шумом. Шум — это широкий термин, обозначающий случайные непериодические изменения амплитуды сигнала. Джиттер — это изменение времени битовых переходов по отношению к периоду тактовой частоты передачи данных или так называемая ошибка временного интервала. Джиттер вызван как фазовым шумом, так и преобразованием амплитудного шума в джиттер. Преобразование шума в джиттер вызывает такие проблемы, как перекрестные помехи, ЭМП (электромагнитные помехи) и случайный шум.
      Анализ целостности сигналов нацелен на исследование характеристик передатчика, генератора тактовой частоты, канала и приемника, где основным показателем является коэффициент битовых ошибок (BER). Целостность питания подразумевает способность схемы питания обеспечивать поддержание постоянного напряжения и низкий импеданс цепей питания и обратных проводников. Целостность сигнала и целостность питания находятся в большой зависимости друг от друга. В схеме питания может возникать шум и джиттер. Особенности схемотехники и используемые компоненты — корпуса микросхем, выводы, печатные проводники, переходные отверстия, разъемы — влияют на импеданс цепи питания и, следовательно, на качество подаваемого питания.

      УСТРАНЕНИЕ ПРОБЛЕМ ЦЕЛОСТНОСТИ СИГНАЛА НАЧИНАЕТСЯ С ГЛАЗКОВОЙ ДИАГРАММЫ
      Отладку аппаратной части можно начать с анализа глазковой диаграммы. Глазковая диаграмма — это суммарный вид всех битовых периодов измеряемого сигнала, наложенных друг на друга, см. рис. 1.        



      Рис. 1 Глазковая диаграмма с маской (сверху) и соответствующий сигнал (снизу)  

      Ширина области наложения по горизонтали соответствует джиттеру, а толщина верхней и нижней линий — шуму. Широко раскрытый глазок соответствует низкому BER. Если BER очень высок, то следующим шагом будет анализ джиттера. На рис. 2 показаны компоненты и подкомпоненты, из которых состоит джиттер.    



      Рис. 2 Разложение джиттера на компоненты  

      На рис. 3 показана сводка измеренных параметров джиттера, включая U-образную кривую, глазковую диаграмму, спектр TIE и гистограмму, численные значения и осциллограмму.
      Разложение джиттера начинается с разделения распределения TIE на случайную и детерминированную составляющие, случайный джиттер (RJ) и детерминированный джиттер (DJ). DJ далее разделяется на джиттер, который коррелирован с последовательностью битов в данных — DDJ (джиттер, зависящий от данных), и некоррелированный джиттер, например, PJ (периодический джиттер).    



      Рис. 3 Снимок экрана со сводкой параметров джиттера, по часовой стрелке с верхнего угла: U-образная кривая, глазковая диаграмма, спектр TIE, результаты анализа джиттера, осциллограмма, гистограмма TIE  

      Ширина наложений на глазковых диаграммах соответствует величине RJ. Глазки, которые, как кажется, состоят из множества почти различимых линий, указывают на DDJ, вероятно, вызванный рассогласованием импеданса в сигнальном тракте. Для определения типов джиттера, которые могут указывать на ошибки в аппаратном обеспечении, необходимы более подробные измерения: TIE, RJ, DJ, DDJ, PJ, TJ (полный джиттер), EH (высота глазка), EW (ширина глазка), высокий уровень глазка и низкий уровень глазка. В таблице 1 перечислены типы джиттера и некоторые причины их появления. Пульсации в цепи питания являются общей причиной PJ, а иногда также RJ.      


      Таблица 1

      ДЖИТТЕР И СХЕМА ПИТАНИЯ
      Задачей схемы питания является поддержание стабильного напряжения и подача достаточного тока в компоненты системы. Это влияет на характеристики каждого компонента системы — активного или пассивного. В понятие схемы питания входят не только преобразователи постоянного тока и линии распределения питания внутри микросхемы, а каждое межсоединение, трасса, переходное отверстие, разъем, конденсатор, корпус, штырьковые и шариковые выводы.  

      ВЛИЯНИЕ ПУЛЬСАЦИЙ НА СЛУЧАЙНЫЙ И ПЕРИОДИЧЕСКИЙ ДЖИТТЕР
      Шум схемы питания, часто называемый пульсациями, обычно составляет несколько милливольт. Для точного измерения милливольтного шума цепей питания на частотах в несколько гигагерц требуются широкополосные пробники с высоким импедансом по постоянному току, которые действуют как 50-омные линии передачи на высоких частотах. Пробники шины питания разработаны специально для этой цели.
      Импульсные источники питания регулируют напряжение между линией питания и обратным проводником (т. н. «земля») путем постоянного переключения между состояниями ВКЛ. и ОТКЛ. с низким уровнем рассеиваемой мощности. К сожалению, импульсы, которые управляют коммутирующими элементами, могут создавать шум коммутации и вызывать PJ.
      Коммутация происходит на фиксированных частотах, которые должны быть указаны в перечне технических характеристик преобразователя постоянного тока. Если спектр пульсаций (в верхнем левом углу на рис. 4) и спектр TIE (прямо под ним) имеют выбросы на частотах коммутации или гармониках частот коммутации, то мы знаем их источники и можем найти их в схеме. Обратите внимание на большой совпадающий выброс, отмеченный красным маркером на рис. 4.    



      Рис. 4 Спектр шума схемы питания (верхний левый угол) и спектр TIE (прямо под ним), осциллограммы информационного сигнала и сигнала цепи питания, а также гистограмма TIE  

      Гистограмма TIE справа от спектра TIE имеет характерное распределение синусоидального джиттера (седлообразное), PJ на одной частоте.
      Источники питания могут вносить случайный шум, который способствует возникновению RJ. Случайный шум схемы питания отображается в виде собственных шумов на спектрограмме в верхнем левом углу рис. 4. Значение RJ вычисляется из уровня собственных шумов на спектрограмме TIE. В этом примере случайный шум, возникший из-за пульсаций питания, очень мал, и RJ незначительный, около 0,84 пс.  

      ПЕРИОДИЧЕСКИЙ ДЖИТТЕР И ЗВОН ЗЕМЛИ
      Во время логических переходов передатчики и приемники получают или потребляют ток из линии питания. При одновременном переключении уровня нескольких сигналов может происходить накопление или разрядка значительных зарядов или с линии питания и/или земли. Резкое изменение заряда вызывает падение напряжения на общем проводнике. Результирующее изменение напряжения называется звоном земли или, что эквивалентно, шумом коммутации (SSN).
      Прежде чем продолжить, мы должны прояснить пару вещей. Во-первых, под «землей» мы подразумеваем общее опорное напряжение обратного проводника, которое обычно должно быть равным 0 В. Во-вторых, «одновременный» означает, что компоненты получают или отдают заряд во временном интервале, когда фронты их сигналов (нарастание/спад) перекрываются.
      SSN выглядит случайным во временной области, но не в частотной. Сигналы передачи данных состоят из многих частотных составляющих — основной гармоники или частоты Найквиста и, возможно, двух высших гармоник, плюс субгармоники от последовательных идентичных битов. Одновременная коммутация может происходить на любой из этих частот. Таким образом, SSN — это периодический шум с многочисленными выбросами малой амплитуды, которые вызывают PJ.  
      Для подтверждения того, что PJ вызван SSN, сравните спектр сигнала линии питания в левом верхнем углу рис. 5 со спектром TIE прямо под ним. Выбросы большой амплитуды, появляющиеся на одинаковой частоте в обоих спектрах, указывают на большую долю PJ в SSN.  



      Рис. 5 Спектр пульсаций линии питания (а) и спектр TIE/джиттера (b)  

      ЗАКЛЮЧЕНИЕ
      Целостность сигнала и качество электропитания находятся в полной взаимосвязи. Каждый элемент схемы питания, каждая трасса, переходное отверстие, разъем, вывод, корпус и т. д. влияют на импеданс цепи питания и импеданс каждого канала, а каждый активный компонент может изменять напряжение цепи питания и земли.
      Глазковая диаграмма может многое рассказать о целостности сигнала, но она редко помогает распознать специфические проблемы. Анализ распределения TIE подразумевает разложение джиттера на компоненты, которые дают ключ к разгадке проблем. Высокий RJ обычно указывает на шум тактового генератора, но он также может указывать на случайные шумы от источника питания.
      PJ может указывать на неисправность тактового генератора, коммутационный шум источника питания или звон земли/SSN. Сравнивая спектр сигнала цепи питания со спектром TIE, можно выделить проблему в два этапа. Выбросы в спектре TIE без соответствующих выбросов в спектре сигнала цепи питания указывают на тактовый сигнал. Один или два выброса на одинаковых частотах в обоих спектрах указывают на шум коммутации, а большое количество выбросов, общих в обоих спектрах, указывает на SSN. В обоих этих случаях сочетание анализа джиттера и анализа схемы питания позволяет выделить сложные проблемы.
      Целостность сигнала и качество электропитания часто считаются отдельными предметами, но мы показали, что для обнаружения проблем, связанных с большим джиттером, необходимо понимать и тот, и другой.  

      Материалы предоставлены представительством компании Tektronix в России.
      Статья размещена в 1 номере журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» 2020 года.

      Назад к списку Следующая статья
      Это интересно
      • Преодоление проблем генерации радиочастотных сигналов с помощью новых технологий ЦАП (Sahand Noorizadeh / Iqbal Bawa, Tektronix)
        Преодоление проблем генерации радиочастотных сигналов с помощью новых технологий ЦАП (Sahand Noorizadeh / Iqbal Bawa, Tektronix)
        1 Октября 2020
      • Оценка эффективности силового полупроводникового прибора методом двухимпульсного тестирования (Andrea Vinci, Tektronix)
        Оценка эффективности силового полупроводникового прибора методом двухимпульсного тестирования (Andrea Vinci, Tektronix)
        21 Июля 2020
      • Обнаружение БПЛА с использованием анализатора спектра реального времени RSA306B и RSA507A
        Обнаружение БПЛА с использованием анализатора спектра реального времени RSA306B и RSA507A
        14 Июля 2020
      • Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров (Chris Godfrey, Tektronix)
        Тестирование матрицы лазерных диодов для трехмерных сканеров (Chris Godfrey, Tektronix)
        8 Июля 2020
      • Советы по измерению джиттера и выявлению причин его возникновения во встраиваемых системах (Scott Davidson, Tektronix)
        Советы по измерению джиттера и выявлению причин его возникновения во встраиваемых системах (Scott Davidson, Tektronix)
        25 Июня 2020
      • Решения Tektronix для разработчиков систем на основе SiC и GaN (Andrea Vinci, Tektronix)
        Решения Tektronix для разработчиков систем на основе SiC и GaN (Andrea Vinci, Tektronix)
        15 Июня 2020
      • Инновации в контрольно-измерительных технологиях: производство новых осциллографов смешанных сигналов Tektronix серии 5 (Dave Pereles, Tektronix)
        Инновации в контрольно-измерительных технологиях: производство новых осциллографов смешанных сигналов Tektronix серии 5 (Dave Pereles, Tektronix)
        9 Июня 2020
      • Опыт монтажа безэховой экранированной камеры AMS-8500 ETS-Lindgren
        Опыт монтажа безэховой экранированной камеры AMS-8500 ETS-Lindgren
        3 Июня 2020
      • Внутрисхемное измерение параметров дросселей и трансформаторов в импульсных источниках питания (Wilson Lee, Tektronix)
        Внутрисхемное измерение параметров дросселей и трансформаторов в импульсных источниках питания (Wilson Lee, Tektronix)
        2 Июня 2020
      • Ускорение электрического тестирования: история от производителя электромобилей (Brad Odhner, Tektronix/Keithley Instruments)
        Ускорение электрического тестирования: история от производителя электромобилей (Brad Odhner, Tektronix/Keithley Instruments)
        25 Мая 2020
      • Упрощение сложных измерений с помощью источника-измерителя (SMU) (Tom Ohlsen, Tektronix)
        Упрощение сложных измерений с помощью источника-измерителя (SMU) (Tom Ohlsen, Tektronix)
        18 Мая 2020
      • Новый подход к частотному анализу в осциллографах (Lee Morgan, Tektronix)
        Новый подход к частотному анализу в осциллографах (Lee Morgan, Tektronix)
        12 Мая 2020
      • Точные измерения цепей питания (Lee Morgan, Tektronix)
        Точные измерения цепей питания (Lee Morgan, Tektronix)
        26 Апреля 2020
      • Измерение стабильности и джиттера тактовой частоты с помощью осциллографа (Scott Davidson, Tektronix)
        Измерение стабильности и джиттера тактовой частоты с помощью осциллографа (Scott Davidson, Tektronix)
        20 Апреля 2020
      • Ускорение проверки временных соотношений для источников питания с помощью 8-канального осциллографа (Lee Morgan, Tektronix)
        Ускорение проверки временных соотношений для источников питания с помощью 8-канального осциллографа (Lee Morgan, Tektronix)
        14 Апреля 2020
      • RSA306 – компактный высокопроизводительный анализатор спектра (Dean Miles, Tektronix)
        RSA306 – компактный высокопроизводительный анализатор спектра (Dean Miles, Tektronix)
        6 Апреля 2020
      • Тестирование трансиверов SFP+ (Dean Miles, Tektronix)
        Тестирование трансиверов SFP+ (Dean Miles, Tektronix)
        1 Апреля 2020
      Подписывайтесь на новости и акции:
      Компания
      О компании
      Сотрудники
      Реквизиты
      Каталог
      Измерительное оборудование
      Испытания на электро-магнитную совместимость/Антенные измерения
      Промышленная мебель

      +7 495 432 71 85
      info@master-tool.ru
      127106, г.Москва, Нововладыкинский проезд, дом 8, строение 4
      Обращаем Ваше внимание на то, что информация на сайте, носит исключительно информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса Российской Федерации. Для получения подробной информации о наличии товара, сроке поставки, его технических характеристиках и стоимости, необходимо обращаться в ООО ”Мастер-Тул”.
      © 2022 Мастер-Тул